가톨릭대학교 공동기기센터
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비 장비
Scanning electron microscopy
주사전자현미경
  • 호실
    D106
  • 제조사(모델)
    HITACHI (S-4800)
  • 담당자
    이루다
  • 이메일
    ruda@catholic.ac.kr
  • 연락처
    02-2164-4692
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SEM Control Ball 부품 수급 문제로 10월 ~11월 중 교체 예정입니다.

 

SEM Track Ball의 부품수급 문제로 교체가 늦어지고 있습니다.

 

최근 Ball 조작이 어려워지고 있어 불편한 이용자분들이 많아 임시조치로 Ball 테두리를 제거 하였습니다

 

테두리를 제거하여 컨트롤러 내부로 먼지가 유입될 수 있어 덮개를 준비 하였으니 장비사용 후 에는 덮개를 꼭 덮고 퇴실 하시기 바랍니다.

 

이용자 편의를 위한 조치로 장비사용에 유의 부탁드립니다.

 

시료정보에 Pt횟수(예상) 기재

 

EDX사용 시 EDX 찍는 샘플 수 기재

 

정량, Line, Mapping 등 횟수 기재

 

먼저 기재 하고 변동 시 사무실에 얘기 해 주세요 : )

원리 및 특성

주사전자 현미경은 가속된 전자를 전자렌즈로 수렴시켜 빠른 속도로 표본 위를 Scanning 함으로 요철 부위에서 발생하는 2차 전자를 검출하고 이를 증폭함으로 심도있는 상을 입체적으로 관찰하는 전자현미경이다.

초점심도가 상당히 깊어서 파단면과 같은 복잡한 구조나 결정 외형과 같은 입체적인 형체를 일정한 시야 상에서 광학현미경과 투과전자현미경의 중간 정도의 배율인 수십 배에서 수십 만 배까지 연속적으로 변화시켜 관찰 할 수 있고 수십 Å까지 분해가 가능하다.

규격

1. High resolution - 1.4nm at 1kV / 1.0nm at 15kV

2. Beam deceleration - Landing Voltage (0.1~2.0kV)

3. Super E × B filter (Hitachi Patent)

4. Collect and select various components of SE&BSE signals

적용(응용)분야

- 각종 생물, 동물 시료의 피복세포 초미세 구조의 입체적 관찰

- 마이크로, 나노 단위의 구조물 형상분석

- 조직 절단면 내부구조의 입체적 관찰

사용료

표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함

구분 항목 단위 외부교내가족회사성의교정 비고
분석의뢰
분석료 시간 80,00048,00064,00064,000
PT코팅 20,00012,00020,00020,000
에너지분산성분분석기 분석료 샘플 20,00012,00012,00012,000
에너지분산성분분석기 정량분석료 샘플 15,0009,00012,00012,000
에너지분산성분분석기 Line profile분석료 샘플 15,0009,00012,00012,000
에너지분산성분분석기 Mapping분석료 샘플 15,0009,00012,00012,000
직접사용
분석료 30분당 40,00016,00032,00032,000
PT코팅 20,0008,00020,00020,000
에너지분산성분분석기 분석료 샘플 20,00010,00012,00012,000
에너지분산성분분석기 정량분석료 샘플 15,0007,50012,00012,000
에너지분산성분분석기 Line profile분석료 샘플 15,0007,50012,00012,000
에너지분산성분분석기 Mapping분석료 샘플 15,0007,50012,00012,000


관련자료


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