가톨릭대학교 공동기기센터
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비 장비
Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer
에너지분산형X-선형광분광기
  • 호실
    D116
  • 제조사(모델)
    PANalytical (EPSILON 3X )
  • 담당자
    이루다
  • 이메일
    ruda@catholic.ac.kr
  • 연락처
    02-2164-4692
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09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 09:00 - 17:00 X X
원리 및 특성

1. X-선을 이용하여 무기원소 정량, 정성 분석. 비파괴 방법 (용해나 전처리) 으로 분석이 가능함. 시료에 1차 X-선을 조사하여 발생하는 형광 X-선을 분광 분석함

2. Bench-top 에너지분산형 엑스선 형광분석기로 시료의 하면을 조사할 수 있어서 파우더 및 액상 시료까지 Na ~ U으로 넓은 영역의 원소분석이 가능.

3. 어떤 형태의 시료든 분석이 가능.

4. 추가의 Utilities가 필요없고,검출기 Cooling를 위한 Water, Gas등이 필요하지 않음.

5. 미지의 시료의 성분을 시료의 손실 없이 반정량법을 이용하여 분석이 가능하므로 표준시료가 없이도 정량분석이 가능함.

6. 고효율의 에너지 분산형 검출기를 장착하여 다양한 종류의 다양한 형태의 시료에 적합하며, 간단한 운용 및 관리로 운용시에도 여러 장점이 있음

7. 10개의 시료를 한번에 Loading하여 많은 시료를 분석 할 수 있으며, 정확한 정량 분석을 위해서, 측정시 균질한 측정용 spin기능이 추가되었고, 8개의 Filter가 장착되어 분석하고자 하는 원소에 따라 자동으로 분석이 가능함.

8. 미량의 샘플 또는 경원소 분석시 Detector의 Crystal의 면적이 커야 원소에서 발생 되는 형광 X-선을 충분히 받아 들여 정확한 정량을 할 수 있음. 15mm2 면적의 검출기 Crystal 를 사용 하여 미량 샘플 및 경원소 분석에 탁월함.

9. 다양한 환경시료 (토양, 폐기물, 광산 폐석 등) 재료 및 소재 (건설, 전자, 요업 분야 등)의 무기물 정량, 정성 분석.

규격

1. Benchtop XRF Spectrometer
    1) X-ray Radiation Source
(1) Type : Low power side window, software control tube voltage and current 
(2) Anode Material : Ag or Rh with thin window
(3) Max. generator power : ≥ 9 W
(4) Max. Voltage : ≥ 50 kV
(5) Max. current : ≥ 1 mA
(6) Window thickness : ≤ 8 um(Be)
(6) Tube filter : more than 6 filters software selectable
  (Cu 300um, Cu 500um, Al 50um, Al 200um, Ti 7um, Ag 100um)

    2) Sample handling stage
(1) Samples : Powder, Fused bead, Metal, Liquid and film
(2) Sample size : 
  - Solids 27-51.5mm diameter and max. 4.9 cm height
  - Large sample dimension max. 4.9 x 20 x 10 (H x W x D) cm
(3) Samples changer : Programmable 10 positions removable tray with 10 sample holders
(4) Spinner included
(5) Helium purge or Vacuum system
  - Inlet pressure : 0.8bar
  - Gas purity : 99.996%
  - Gas consumption : 0.5l/min or less (Improves intensities of low atomic number elements such as C, N, O, F, Na, and Al)

    3) Detector
(1) Type : High resolution Solid state Si Drift Ultra Detector or better
(2) Cooling : Two Peltier cooling system. (Not required LN2 or Water cooling unit.)
(3) Resolution : [ 135eV @ 5.9 keV/1000cps

    4) General specification
(1) Elemental analysis range : Na ~ Am or wider
(2) Concentration range : ppm to 100 %
 

적용(응용)분야
사용료

표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함

구분 항목 단위 외부교내가족회사성의교정 비고
분석의뢰
분석료 샘플 30,00024,00024,00024,000
전처리 샘플 20,0008,0008,0008,000
직접사용
분석료 샘플 30,00012,00024,00024,000
전처리 샘플 20,0008,0008,000


관련자료


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