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| 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | 09:00 - 17:00 | X | X |
표본의 표면을 캔틸레버라는 나노 막대가 주사하면, 캔틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료 표면에 접근하여 탐침 끝의 원자와 시료표면의 원자 사이에 서로의 간격에 따라 끌어당기거나(인력, 반데르발스 힘) 밀치는 힘(척력, 쿨롱 힘)이 작용하게 되고, 이 힘에 의해 캔틸레버가 아래위로 휘어지게 되며, 이를 측정하여 원자단위의 표면구조를 파악 원리이다.
1. 탐침을 이용해 시료의 표면 또는 물성을 관찰,측정
2. 고해상도의 3차원 측정
3. x축, y축 / z축 분해능 : 0.1nm / 0.01nm
4. 측정 가능한 범위: 25 ~ 108 배
- 반도체 부품, 전기전자 부품, 광학부품, 자동차 부품의 미세표면조도 등
- 재료 : 금속, 신소재, 세라믹, 펄프, 박막, Glass, 고분자재료 가능
표시되지 않은 시료전처리, 재료비 및 분석결과의 특별한 해석을 의뢰할 경우에 별도로 요금을 산정함
| 구분 | 항목 | 단위 | 외부 | 교내 | 가족회사 | 성의교정 | 비고 |
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분석의뢰 |
분석료 | 샘플 | 20,000 | 16,000 | 16,000 | 16,000 | |
| 분석료(포인트3개 이상 추가) | 포인트 | 15,000 | 6,000 | 6,000 | 6,000 | ||
| Tip | 샘플 | 50,000 | 50,000 | 50,000 | 50,000 | ||
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직접사용 |
분석료 | 샘플 | 20,000 | 8,000 | 16,000 | 16,000 | |
| 분석료(포인트3개 이상 추가) | 포인트 | 15,000 | 6,000 | 6,000 | |||
| Tip | 샘플 | 50,000 | 50,000 | 50,000 | 50,000 |
